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目次
第1章 自己診断テスト
第2章 プログラム・テストの心理学と経済学
第3章 プログラムの検査、ウォークスルー、検討
第4章 テスト・ケースの設計
第5章 モジュール(単体)・テスト
第6章 上級テスト
第7章 デバッグ
第8章 エクストリーム・テスト
第9章 インターネット・アプリケーションのテスト
著者等紹介
マイヤーズ,J.[マイヤーズ,J.][Myers,Glenford J.]
ソフトウェアの信頼性とコンピュータ・アーキテクチャの分野における教育・研究・コンサルティングに従事している。IBM SRI(Systems Resarch Institute)のシニア・スタッフ・メンバ
バジェット,T.[バジェット,T.][Badgett,Tom]
IdleAire Technologies社のCIO(情報担当役員)でPCJr magazineなどの技術編集者を歴任
トーマス,M.[トーマス,M.][Thomas,Todd M.]
ソフト開発とDBAの専門家でJava Data Accessの著者
サンドラー,C.[サンドラー,C.][Sandler,Corey]
Word Association社の社長でFix Your Own PCの著者
長尾真[ナガオマコト]
1959年京都大学工学部電子工学科卒業。1961年京都大学大学院修士課程修了。1973年京都大学教授。1997‐2003年京都大学総長。現在、独立行政法人情報通信研究機構理事長。工学博士(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
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感想・レビュー
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