はじめてのデバイス評価技術 (第2版)

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はじめてのデバイス評価技術 (第2版)

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  • サイズ A5判/ページ数 179p/高さ 22cm
  • 商品コード 9784627774421
  • NDC分類 549.8
  • Cコード C3055

内容説明

半導体デバイス評価を学ぶならこの一冊で十分。評価フェーズごとの詳細な解説!知りたい情報が詰まってる。

目次

第1章 半導体デバイスの特徴
第2章 デバイス評価技術概要
第3章 信頼性試験
第4章 故障解析
第5章 寿命データ解析
第6章 具体例・応用事例

著者等紹介

二川清[ニカワキヨシ]
1974年大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社(NEC)入社(~2009年)。1990年デバイス評価技術研究所主管研究員など歴任。2007年金沢工業大学大学院客員教授(~現在)。2010年大阪大学大学院特任教授(~2012年)(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)
※書籍に掲載されている著者及び編者、訳者、監修者、イラストレーターなどの紹介情報です。