内容説明
半導体の構造から試験手法までわかりやすく解説。
目次
序章 半導体の試験について
第１章 半導体の基礎（半導体物性；トランジスタの構造と動作原理 ほか）
第２章 半導体の品質保証（品質保証；信頼性基礎技術 ほか）
第３章 半導体製品の分類（デバイスタイプ；ロジックデバイス ほか）
第４章 半導体の試験項目（半導体試験装置（ＡＴＥ）によるデバイス試験の概要
ファンクション試験 ほか）
著者等紹介
浅田邦博［アサダクニヒロ］
東京大学大規模集積システム設計教育研究センターセンター長・教授。１９８０年３月東京大学工学系研究科電子工学博士課程修了（工博）。１９８０年４月より東京大学工学部に任官。９５年東京大学工学系研究科教授。９６年東京大学大規模集積システム設計教育研究センター（ＶＤＥＣ）の設立に伴い異動、２０００年より同センター長。この間、８５‐８６年英国エディンバラ大学訪問研究員。９０‐９２年電子情報通信学会英文誌エレクトロニクス初代エディタ。０１‐０２年ＩＥＥＥ ＳＳＣＳ Ｊａｐａｎ Ｃｈａｐｔｅｒ Ｃｈａｉｒ。０５‐０８年ＩＥＥＥ Ｊａｐａｎ Ｃｏｕｎｃｉｌ Ｃｈａｐｔｅｒ Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ Ｃｈａｉｒ。専門は集積システム・デバイス工学（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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感想・レビュー
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vinlandmbit
36
図書館本。半導体を詳しく復習する上で想定以上に良書でした。本シリーズ続編も読むべきと判断出来る一冊です。2021/11/06
きのこかえる
0
誤字多すぎてびっくりしちゃった2021/06/27
maimai
0
読んだ…に入れていいのか分からないけど、この本で半導体について勉強しました2020/06/16
