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神奈川工科大学附属図書館
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IEEE design & test of computers
IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. -- Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012). -- IEEE Computer Society, 1984. <SB00001604>
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IEEE design & test of computers
IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. -- Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012). -- IEEE Computer Society, 1984. <SB00001604>
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所蔵館
配置場所
配置場所2
請求記号
巻号
年月次
購読状況
0001
図書館
B1製本雑誌
1-3, 4(1-2, 5-6), 5-13, 14(2-4), 15-18, 19(1-4, 6), 20(1, 3-5), 21, 22(2-6), 23-24
1984-2007
No.
0001
所蔵館
図書館
配置場所
B1製本雑誌
配置場所2
請求記号
巻号
1-3, 4(1-2, 5-6), 5-13, 14(2-4), 15-18, 19(1-4, 6), 20(1, 3-5), 21, 22(2-6), 23-24
年月次
1984-2007
購読状況
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書誌詳細
標題および責任表示
IEEE design & test of computers / IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
巻次・年月次
Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012)
出版・頒布事項
[Los Alamitos, Calif.] : IEEE Computer Society , c[1984]-2012
形態事項
v. : ill. ; 28 cm
その他の標題
略タイトル(雑誌書誌レコード):IEEE des. test comput (Print)
その他の標題
キータイトル(雑誌書誌レコード):IEEE design & test of computers (Print)
その他の標題
異なりアクセスタイトル:IEEE design and test of computers
その他の標題
異なりアクセスタイトル:Design & test of computers
その他の標題
異なりアクセスタイトル:Design and test of computers
その他の標題
欄外タイトル:IEEE design & test
その他の標題
異なりアクセスタイトル:Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers
注記
Title from cover
注記
Vol. 1, no. 1 also called premiere issue
注記
Issued also in microfiche
注記
Quarterly, 1984; bimonthly, 1985-
注記
Place of publication varies: New York, N.Y.
学情ID
AA10630714
本文言語コード
英語
刊行頻度コード
隔月刊
ISSN
07407475
書誌変遷リンク
継続後誌 :IEEE design & test / IEEE <SB01104581>
著者標目リンク
IEEE Computer Society <AU00014775>
著者標目リンク
Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00014210>
件名標目等
Computer engineering -- Periodicals
件名標目等
Electronic digital computers -- Testing -- Periodicals
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