神奈川工科大学附属図書館

IEEE design & test of computers

IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. -- Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012). -- IEEE Computer Society, 1984. <SB00001604>
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No. 所蔵館 配置場所 配置場所2 請求記号 巻号 年月次 購読状況
0001 図書館 B1製本雑誌 1-3, 4(1-2, 5-6), 5-13, 14(2-4), 15-18, 19(1-4, 6), 20(1, 3-5), 21, 22(2-6), 23-24 1984-2007
No. 0001
所蔵館 図書館
配置場所 B1製本雑誌
配置場所2
請求記号
巻号 1-3, 4(1-2, 5-6), 5-13, 14(2-4), 15-18, 19(1-4, 6), 20(1, 3-5), 21, 22(2-6), 23-24
年月次 1984-2007
購読状況

書誌詳細

標題および責任表示 IEEE design & test of computers / IEEE Computer Society [and] the Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc
巻次・年月次 Vol. 1, no. 1 (Feb. 1984)-v. 29, no. 6 (Nov./Dec. 2012)
出版・頒布事項 [Los Alamitos, Calif.] : IEEE Computer Society , c[1984]-2012
形態事項 v. : ill. ; 28 cm
その他の標題 略タイトル(雑誌書誌レコード):IEEE des. test comput (Print)
その他の標題 キータイトル(雑誌書誌レコード):IEEE design & test of computers (Print)
その他の標題 異なりアクセスタイトル:IEEE design and test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design & test of computers
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Design and test of computers
その他の標題 欄外タイトル:IEEE design & test
その他の標題 異なりアクセスタイトル:Institute of Electrical and Electronics Engineers design and test of computers
注記 Title from cover
注記 Vol. 1, no. 1 also called premiere issue
注記 Issued also in microfiche
注記 Quarterly, 1984; bimonthly, 1985-
注記 Place of publication varies: New York, N.Y.
学情ID AA10630714
本文言語コード 英語
刊行頻度コード 隔月刊
ISSN 07407475
書誌変遷リンク 継続後誌 :IEEE design & test / IEEE <SB01104581>
著者標目リンク IEEE Computer Society <AU00014775>
著者標目リンク Institute of Electrical and Electronics Engineers <AU00014210>
件名標目等 Computer engineering -- Periodicals
件名標目等 Electronic digital computers -- Testing -- Periodicals