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神奈川工科大学附属図書館
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Annual proceedings, reliability physics
8th (Apr. 7/10, 1970)-31st (Mar. 23/24/25, 1993). -- Electron Devices and Reliability Groups of the Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1971. <SB01035566>
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Annual proceedings, reliability physics
8th (Apr. 7/10, 1970)-31st (Mar. 23/24/25, 1993). -- Electron Devices and Reliability Groups of the Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1971. <SB01035566>
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No.
所蔵館
配置場所
配置場所2
請求記号
巻号
年月次
購読状況
0001
図書館
B1製本雑誌
14-18, 20-24, 25-28
1976-1990
No.
0001
所蔵館
図書館
配置場所
B1製本雑誌
配置場所2
請求記号
巻号
14-18, 20-24, 25-28
年月次
1976-1990
購読状況
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レビュー
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書誌詳細
標題および責任表示
Annual proceedings, reliability physics
巻次・年月次
8th (Apr. 7/10, 1970)-31st (Mar. 23/24/25, 1993)
出版・頒布事項
New York, N.Y. : Electron Devices and Reliability Groups of the Institute of Electrical and Electronics Engineers , c1971-c1993
形態事項
v. : ill. ; 28 cm
その他の標題
略タイトル(雑誌書誌レコード):Reliab. phys
その他の標題
キータイトル(雑誌書誌レコード):Reliability physics
注記
Sponsored by: the IEEE Electron Device Group and the IEEE Reliability Group
学情ID
AA11024425
本文言語コード
英語
刊行頻度コード
年刊
ISSN
07350791
書誌変遷リンク
継続後誌 :IEEE international reliability physics proceedings / sponsored by the IEEE Electronic Devices Society and the IEEE Reliability Society <>
著者標目リンク
*Reliability Physics Symposium <AU00014723>
著者標目リンク
IEEE Electron Devices Group <AU00014725>
著者標目リンク
IEEE Reliability Group <AU00014726>
件名標目等
Electronic apparatus and appliances -- Reliability -- Congresses
件名標目等
Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses
件名標目等
Integrated circuits -- Reliability -- Congresses
件名標目等
Integrated circuits -- Testing -- Congresses
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