神奈川工科大学附属図書館

Annual proceedings, reliability physics

8th (Apr. 7/10, 1970)-31st (Mar. 23/24/25, 1993). -- Electron Devices and Reliability Groups of the Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1971. <SB01035566>
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No. 所蔵館 配置場所 配置場所2 請求記号 巻号 年月次 購読状況
0001 図書館 B1製本雑誌 14-18, 20-24, 25-28 1976-1990
No. 0001
所蔵館 図書館
配置場所 B1製本雑誌
配置場所2
請求記号
巻号 14-18, 20-24, 25-28
年月次 1976-1990
購読状況

書誌詳細

標題および責任表示 Annual proceedings, reliability physics
巻次・年月次 8th (Apr. 7/10, 1970)-31st (Mar. 23/24/25, 1993)
出版・頒布事項 New York, N.Y. : Electron Devices and Reliability Groups of the Institute of Electrical and Electronics Engineers , c1971-c1993
形態事項 v. : ill. ; 28 cm
その他の標題 略タイトル(雑誌書誌レコード):Reliab. phys
その他の標題 キータイトル(雑誌書誌レコード):Reliability physics
注記 Sponsored by: the IEEE Electron Device Group and the IEEE Reliability Group
学情ID AA11024425
本文言語コード 英語
刊行頻度コード 年刊
ISSN 07350791
書誌変遷リンク 継続後誌 :IEEE international reliability physics proceedings / sponsored by the IEEE Electronic Devices Society and the IEEE Reliability Society <>
著者標目リンク *Reliability Physics Symposium <AU00014723>
著者標目リンク IEEE Electron Devices Group <AU00014725>
著者標目リンク IEEE Reliability Group <AU00014726>
件名標目等 Electronic apparatus and appliances -- Reliability -- Congresses
件名標目等 Electronic apparatus and appliances -- Testing -- Congresses
件名標目等 Integrated circuits -- Reliability -- Congresses
件名標目等 Integrated circuits -- Testing -- Congresses