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Secondary ion mass spectrometry : basic concepts,

John Wiley & Sons, 1987. -- (Chemical analysis : a series of monographs)(on analytical chemistry and its applications ; v. 86). <BB00115264>
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John Wiley & Sons, 1987. -- (Chemical analysis : a series of monographs)(on analytical chemistry and its applications ; v. 86). <BB00115264>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1書架 433.2||S 120155601 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1書架
請求記号 433.2||S
資料ID 120155601
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Secondary ion mass spectrometry : basic concepts,
標題および責任表示 instrumental aspects, applications and trends / A. Benninghoven, F.G. RUdenauer, H.W. Werner
出版・頒布事項 New York : John Wiley & Sons , c1987
形態事項 xxxv, 1227 p. : ill. ; 24 cm
巻号情報
ISBN 0471010561
書誌構造リンク Chemical analysis : a series of monographs
書誌構造リンク on analytical chemistry and its applications <BA00071272> v. 86//a
注記 "A Wiley-Interscience publication."
注記 Bibliography: p. 1125-1216
注記 Includes index
学情ID BA00818946
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Benninghoven, A. <NC:DA01033322>
著者標目リンク RUdenauer, F. G. <NC:DA01414246>
著者標目リンク Werner, H. W. <NC:DA01414268>
分類標目 LCC:QD96.S43
分類標目 DC19:543/.0873
件名標目等 Secondary ion mass spectrometry
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