ログイン
目録検索 ▼
検索トップへ
分類検索
雑誌タイトルリスト
新着案内
貸出ランキング
レビュー一覧
タグ検索
利用者サービス ▼
利用状況の確認
ブックマーク
お気に入り検索
レビュー履歴
タグ履歴
≡
書誌詳細
神奈川工科大学附属図書館
検索結果一覧へ戻る
Pattern recognition theory and applications
: Germany, : U.S.. -- Springer-Verlag, 1987. -- (NATO ASI series ; ser. F . Computer)(and systems sciences ; v. 30). <BB00116633>
登録タグ:
登録されているタグはありません
便利機能:
エクスポート先選択
エクスポート先を選択してください。
このウインドウを閉じる
レビューを見る
詳細情報を見る
書誌URL:
Pattern recognition theory and applications
: Germany, : U.S.. -- Springer-Verlag, 1987. -- (NATO ASI series ; ser. F . Computer)(and systems sciences ; v. 30). <BB00116633>
登録タグ:
登録されているタグはありません
便利機能:
エクスポート先選択
エクスポート先を選択してください。
このウインドウを閉じる
レビューを見る
詳細情報を見る
書誌URL:
他の巻号選択
巻号を選択すると、画面が選択した巻号の情報に切り替わります。
: Germany
: U.S.
このウインドウを閉じる
所蔵一覧
1件~1件(全1件)
ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。
10件
20件
50件
100件
No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
図書館
B1書架
007.1||P
120133541
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
図書館
配置場所
B1書架
請求記号
007.1||P
資料ID
120133541
状態
返却予定日
予約
0件
このページのTOPへ
レビュー
このページのTOPへ
書誌詳細
標題および責任表示
Pattern recognition theory and applications
標題および責任表示
/ edited by Pierre A. Devijver, Josef Kittler
出版・頒布事項
Berlin ; Tokyo : Springer-Verlag , c1987
形態事項
xi, 543 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN
3540177000
巻号情報
ISBN
0387177000
巻号情報
巻次等
: Germany
巻号情報
巻次等
: U.S.
書誌構造リンク
NATO ASI series <BA0006594X> ser. F . Computer
書誌構造リンク
and systems sciences ; v. 30//a
注記
"Proceedings of the NATO Advanced Study Institute
注記
on Pattern Recognition Theory and Applications held in Spa-Balmoral, Belgium, June 9-20, 1986."--T.p.
注記
verso
学情ID
BA00858146
本文言語コード
英語
著者標目リンク
*NATO Advanced Study Institute on Pattern Recognition
著者標目リンク
Theory and Applications <NC:DA01461053> (1986 : Spa, Belgium)
著者標目リンク
Devijver, Pierre A., 1936- <NC:DA01461166>
著者標目リンク
Kittler, Josef, 1946- <NC:DA01119530>
分類標目
LCC:Q327
分類標目
DC19:006.4
分類標目
科学技術 NDLC:M121
件名標目等
Pattern perception -- Congresses
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ
関連情報<<
関連情報
関連資料
親書誌をみる
NATO ASI series
分類からさがす
LCC:Q327
DC19:006.4
科学技術 NDLC:M121
件名からさがす
Pattern perception -- Congresses
他の検索サイトで探す
cinii
NDL
WEB STORE
WorldCat
他大学資料確認
他大学(NII):同一条件検索
他大学(NII):同一書誌検索
この書誌のQRコード