神奈川工科大学附属図書館
ログイン

神奈川工科大学附属図書館

検索結果一覧へ戻る

Electron beam testing technology

edited by John T.L. Thong. -- Plenum Press, 1993. -- (Microdevices : physics and fabrication technologies). <BB00113080>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

Electron beam testing technology

edited by John T.L. Thong. -- Plenum Press, 1993. -- (Microdevices : physics and fabrication technologies). <BB00113080>
登録タグ：
登録されているタグはありません
便利機能：
レビューを見る 詳細情報を見る
書誌URL：

所蔵一覧 1件～1件（全1件）

ナンバーをクリックすると所蔵詳細をみることができます。

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 2階書架 549.8||E 120214721 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 2階書架
請求記号 549.8||E
資料ID 120214721
状態
返却予定日
予約 0件
このページのTOPへ

書誌詳細

標題および責任表示 Electron beam testing technology / edited by John T.L. Thong
出版・頒布事項 New York : Plenum Press , c1993
形態事項 xvi, 462 p. : ill. ; 26 cm
巻号情報
ISBN 0306443600
書誌構造リンク Microdevices : physics and fabrication technologies <BA03567081>//a
注記 Includes bibliographical references and index
学情ID BA20783334
本文言語コード 英語
著者標目リンク Thong, John T. L. <NC:DA08128358>
分類標目 LCC:TK7871.85
分類標目 DC20:621.3815/48
件名標目等 Semiconductors -- Testing
件名標目等 Electron beams -- Industrial applications
件名標目等 Scanning electron microscopes
このページのTOPへ
検索結果一覧へ戻る
このページのTOPへ

  • 関連情報

    関連資料

    他の検索サイトで探す

    他大学資料確認

    この書誌のQRコード