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神奈川工科大学附属図書館
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Semiconductor material and device characterization
Dieter K. Schroder. -- 2nd ed. -- Wiley, 1998. -- (A Wiley-Interscience publication). <BB00113513>
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Semiconductor material and device characterization
Dieter K. Schroder. -- 2nd ed. -- Wiley, 1998. -- (A Wiley-Interscience publication). <BB00113513>
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No.
巻号
所蔵館
配置場所
請求記号
資料ID
状態
返却予定日
予約
0001
図書館
2階書架
549.8||S
120219472
0件
No.
0001
巻号
所蔵館
図書館
配置場所
2階書架
請求記号
549.8||S
資料ID
120219472
状態
返却予定日
予約
0件
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レビュー
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書誌詳細
標題および責任表示
Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
版事項
2nd ed
出版・頒布事項
New York : Wiley , c1998
形態事項
xxiv, 760 p. ; 25 cm
巻号情報
ISBN
0471241393
書誌構造リンク
A Wiley-Interscience publication <BA00493885>//a
注記
Includes bibliographical references and index
学情ID
BA36515684
本文言語コード
英語
著者標目リンク
*Schroder, Dieter K. <NC:DA01850372>
分類標目
LCC:QC611
分類標目
DC21:621.3815/2
件名標目等
Semiconductors
件名標目等
Semiconductors -- Testing
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