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電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A : ナノテクノロジーの推進役

平坂雅男, 朝倉健太郎共編. -- アグネ承風社, 2002. <BB00021635>
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電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A : ナノテクノロジーの推進役

平坂雅男, 朝倉健太郎共編. -- アグネ承風社, 2002. <BB00021635>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 2階書架 501.55||D 111350658 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 2階書架
請求記号 501.55||D
資料ID 111350658
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A : ナノテクノロジーの推進役 / 平坂雅男, 朝倉健太郎共編
デンシ ケンビキョウ ケンキュウシャ ノ タメ ノ FIB イオン ミリング ギホウ Q&A : ナノテクノロジー ノ スイシンヤク
出版・頒布事項 東京 : アグネ承風社 , 2002.9
形態事項 x, 208p ; 26cm
巻号情報
ISBN 4900508748
その他の標題 異なりアクセスタイトル:FIB・イオンミリング技法Q&A : 電子顕微鏡研究者のための
FIB イオン ミリング ギホウ キュウ アンド エー : デンシ ケンビキョウ ケンキュウシャ ノ タメ ノ
学情ID BA58824376
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 平坂, 雅男(1955-)
ヒラサカ, マサオ <NC:DA13712740>
著者標目リンク 朝倉, 健太郎(1946-)
アサクラ, ケンタロウ <NC:DA02979658>
分類標目 工業基礎学 NDC8:501.55
分類標目 工業基礎学 NDC9:501.55
件名標目等 非破壊検査||ヒハカイケンサ
件名標目等 電子顕微鏡||デンシケンビキョウ
件名標目等 イオンビーム||イオンビーム
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