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新TOEICテスト一発で正解がわかる

キム・デギュン著. -- 旺文社, 2006. <BB00163981>
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キム・デギュン著. -- 旺文社, 2006. <BB00163981>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 B1書架 830.7||K 111478947 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 B1書架
請求記号 830.7||K
資料ID 111478947
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 新TOEICテスト一発で正解がわかる / キム・デギュン著
シン TOEIC テスト イッパツ デ セイカイ ガ ワカル
出版・頒布事項 東京 : 旺文社 , 2006.1
形態事項 319p ; 21cm
巻号情報
ISBN 4010934905
注記 付属資料:録音ディスク(1枚 12cm)
学情ID BA75816192
本文言語コード 日本語
著者標目リンク キム, デギュン
キム, デギュン <NC:DA1481419X>
分類標目 英語 NDC8:830.79
分類標目 英語 NDC9:830.79
件名標目等 英語||エイゴ
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