神奈川工科大学附属図書館

異種材料界面の測定と評価技術 : Evaluation technology for interfacial phenomena

石井淑夫監修. -- テクノシステム, 2012. <BB01056032>
登録タグ:
登録されているタグはありません
書誌URL:

所蔵一覧 1件~1件(全1件)

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 2階書架 431.8||I 111736591 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 2階書架
請求記号 431.8||I
資料ID 111736591
状態
返却予定日
予約 0件

書誌詳細

標題および責任表示 異種材料界面の測定と評価技術 : Evaluation technology for interfacial phenomena / 石井淑夫監修
イシュ ザイリョウ カイメン ノ ソクテイ ト ヒョウカ ギジュツ : Evaluation technology for interfacial phenomena
出版・頒布事項 東京 : テクノシステム , 2012.3
形態事項 15, 562p : 挿図 ; 27cm
巻号情報
ISBN 9784924728653
注記 引用・参考文献: 各節末
学情ID BB08905848
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 石井, 淑夫||イシイ, トシオ <AU00023885>