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TOEIC L&R Testへの総合アプローチ

Yoshizuka Hiroshi, Graham Skerritt [著] ; Advanced. -- 成美堂, 2023. <BB01297316>
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Yoshizuka Hiroshi, Graham Skerritt [著] ; Advanced. -- 成美堂, 2023. <BB01297316>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 Advanced 図書館 3階教科書 830.7||Y 112243142 0件
No. 0001
巻号 Advanced
所蔵館 図書館
配置場所 3階教科書
請求記号 830.7||Y
資料ID 112243142
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 TOEIC L&R Testへの総合アプローチ / Yoshizuka Hiroshi, Graham Skerritt [著]
TOEIC L&R Test エノ ソウゴウ アプローチ
出版・頒布事項 東京 : 成美堂 , 2023.1
形態事項 vi, 118p : 挿図 ; 26cm
巻号情報
巻次等 Advanced
ISBN 9784791972708
その他の標題 標題紙タイトル:Best practice for the TOEIC L&R Test
注記 記述は第2刷(2023.2)による
注記 表紙に「Testudy」とあり
学情ID BD02179034
本文言語コード 日本語 英語
著者標目リンク 吉塚, 弘||ヨシズカ, ヒロシ <AU00061031>
著者標目リンク Skerritt, Graham <AU00061032>
分類標目 英語 NDC9:830.79
分類標目 児童図書・簡易整理資料・教科書・専門資料室資料・特殊資料 NDLC:Y45
件名標目等 英語||エイゴ
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