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はじめてのデバイス評価技術

二川清著. -- 第2版. -- 森北出版, 2012. <BB01072697>
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No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 図書館 2階書架 549.8||N 111776209 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 図書館
配置場所 2階書架
請求記号 549.8||N
資料ID 111776209
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 はじめてのデバイス評価技術 / 二川清著
ハジメテ ノ デバイス ヒョウカ ギジュツ
版事項 第2版
出版・頒布事項 東京 : 森北出版 , 2012.9
形態事項 xi, 179p : 挿図 ; 22cm
巻号情報
ISBN 9784627774421
注記 初版: 工業調査会, 2000年刊
注記 参考文献・引用文献: p169-175
学情ID BB10206954
本文言語コード 日本語
著者標目リンク 二川, 清(1949-)||ニカワ, キヨシ <AU00017362>
分類標目 電子工学 NDC8:549.8
分類標目 電子工学 NDC9:549.8
件名標目等 半導体||ハンドウタイ
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